控制器零件檢測(cè)可移動(dòng)高低溫實(shí)驗(yàn)箱對(duì)電子電工、汽車(chē)摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

控制器零件檢測(cè)可移動(dòng)高低溫實(shí)驗(yàn)箱

一、工作室尺寸:500×600×500mm（W×H×D）更多尺寸可以選擇請(qǐng)咨詢業(yè)務(wù)員索取產(chǎn)品介紹目錄。

二、溫度范圍：

    1.溫度范圍:  0℃～150℃；-20℃～150℃；-40℃～150℃；-70℃～150℃（可任意選擇與設(shè)定）

三、升降溫時(shí)間：

    1. RT+10℃→150℃      約40分鐘（非線性空載，約3℃/分鐘）

    2. RT+10℃→-70℃      約90分鐘（非線性空載，約1℃/分鐘）

1.GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2.GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

3.GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

4.GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

5.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

6.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

7.GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

    溫度穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度平均值之差。雖然新舊標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此指標(biāo)的定義和稱呼相同，但檢測(cè)已有所改變，新標(biāo)準(zhǔn)更實(shí)際，更苛刻一點(diǎn)，但考核時(shí)間短點(diǎn)。一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為±2℃，純高溫試驗(yàn)箱200℃以上可按實(shí)際使用溫度攝氏度(℃)±2%要求。