高低溫試驗內(nèi)空間小詢價

簡要描述：高低溫試驗內(nèi)空間小詢價：
適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫、濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗。

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所屬分類：小型高低溫試驗箱

產(chǎn)品時間：2025-06-01

詳情介紹

高低溫試驗內(nèi)空間小詢價 性能指標:

1.溫度范圍: A:0℃～150℃，B:-20℃～150℃，C:-40℃～150℃，D:-60℃～150℃，E:-70℃～150℃
2.溫度波動度: ≤±0.5℃
3.溫度均勻度：≤±2℃
4.濕度范圍：20～98％R.H
5.濕度偏差：±3%R.H
6.濕度波動：±2.5%R.H
7.精度范圍: 溫度：設(shè)定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃；濕度：設(shè)定精度±1％R.H，指示精度±1％R.H，解析度±1％R.H
8.升溫速率: 1.0～3.0℃/min
9.降溫速率: 0.7～1.0℃/min

高低溫試驗內(nèi)空間小詢價 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫、濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐濕熱循環(huán)試驗。